タッチパネル抵抗・容量測定装置

数値化のお手伝いを致します。

静電容量式タッチパネルパターンの抵抗・容量を測定してOPEN/SHORTの判定を行います。
タッチパネルのパターンはダブル/シングルレイヤー何れにも対応し、高速及び高精度で測定を行えます。
周辺の影響を受けない方法で容量値測定を行うため正確な測定が可能。
プローブと電極の位置合わせは画像処理機器にて実施します。
薄膜太陽電池パターンニング後の抵抗測定も可能です。

検査部仕様

  • ・OPEN検査
  • ・Short検査
  • ・抵抗測定(ダブルのみ)
  • ・容量値測定(電圧降下対策有り)
  • ・絶縁抵抗測定
  • ・検査パターン本数128~512本

検査装置

使用する画像処理機器及び照明は対象ワークに最適な機器を選定します。

検査装置

検査精度

Item Range Accuracy
RS (Short) 500 ohm +/- 1.0 % of Range
50K ohm +/- 0.5 % of Range
500K ohm +/- 10 % of Range
1M ohm +/- 15 % of Range
R (Wire Resistance) 500 ohm +/- 1.0 % of Range
50K ohm +/- 0.5 % of Range
500K ohm +/- 0.5 % of Range
1M ohm +/- 0.5 % of Range
RI (Insulation Resistance) 1M ohm +/- 3 % of Range
5M ohm +/- 1.0 % of Range
50M ohm +/- 1.0 % of Range
500M ohm +/- 8.0 % of Range
1000M ohm +/- 10.0 % of Range
C (Node Capacitance) 10pF +/- 1.0 % of Range
20pF +/- 0.5 % of Range
50pF +/- 0.2 % of Range
100pF +/- 0.15 % of Range
200pF +/- 0.01 % of Range

検査処理時間(参考値)

5インチ X19 Y11 シングル
検査項目 測定箇所 測定時間(m/s) 測定時間(m/s) 測定時間(s)
OPEN検査(C判定) 30 25 750 0.75
Short検査(抵抗測定) 30 20 600 0.60
OPEN/SHORT測定時間合計 60 45 1350 1.35
抵抗測定        
交点容量測定(全点) 209 25 52225 5.23
絶縁抵抗測定(パターン間) 28 40 1120 1.12
絶縁抵抗測定(交点) 209 40 8360 8.36
端子間、容量測定時間合計 446 105 14705 14.71
同一測定 合計 506 150 16055 16.06
7インチ X29 Y16 シングル
検査項目 測定箇所 測定時間(m/s) 測定時間(m/s) 測定時間(s)
OPEN検査(C判定) 45 20 900 0.9
Short検査(抵抗測定) 45 20 900 0.90
OPEN/SHORT測定時間合計 90 40 1800 1.80
抵抗測定 45 20 900 0.90
交点容量測定(全点) 462 25 11550 11.55
絶縁抵抗測定(パターン間) 43 40 1720 1.72
絶縁抵抗測定(交点) 462 40 18480 18.48
端子間、容量測定時間合計 1012 125 32650 32.65
同一測定 合計 1102 165 34450 34.45

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